Microscope Spotlight FT-IR
- Constructeur
- PerkinElmer
- Réf. HTTS
- HTS-SA-0502
- Réf. HTDS
- SPOTLIGHT FT IR MICROSCOPE
- Division
- Sciences Analytiques
Galerie et schémas techniques
Description
Les utilisateurs des laboratoires modernes ont aujourd’hui besoin de systèmes rapides, dotés d’une technologie de pointe, ainsi que d’un logiciel expert et convivial. Le microscope Spotlight répond à cette exigence en automatisant, pour la première fois, l’analyse d’un échantillon en microscopie infrarouge, offrant un gain de temps et une précision inégalée. Ce système innovant allie microscopie et spectroscopie infrarouge dans un même appareil, permettant une analyse chimique détaillée de matériaux complexes à l’échelle microscopique. Il se distingue par une résolution spatiale élevée et une optique avancée qui garantissent des images nettes, utiles pour la détection de particules, la cartographie chimique et l’identification des composants dans des matrices hétérogènes.
Conçu pour identifier rapidement les contaminants et les matériaux sur des échantillons complexes, le Spotlight FT-IR garantit une analyse fiable et reproductible avec une excellente résolution.
Le Spotlight FT-IR Microscope est une solution de microscopie infrarouge pensée pour les laboratoires qui doivent analyser des échantillons complexes, de petite taille ou hétérogènes.
Caractéristiques
- Microscopie FTIR pour l’analyse chimique localisée
- Modes réflexion, transmission et ATR
- Imagerie visible pour repérage rapide des zones d’intérêt
- Automatisation avancée pour améliorer la productivité
- Analyse adaptée aux échantillons petits, complexes ou irréguliers
Spécifications techniques
- P
- (800) 762-4000 or
- Usage
- matériaux, polymères, microplastiques, pharma, forensique
- Fonction
- identification chimique, cartographie, analyse de contaminants
- Interface
- système automatisé avec visualisation et traitement des données
- Technnologie
- microscopie infrarouge FTIR
- P r o d u c t
- N o t e
- Microscopy System
- microscopy system from PerkinElmer® system is designed for infrared microscopy and imaging. This
- Modes d’analyse
- ATR, réflexion, transmission
- Spotlight 200 FT-IR
- Redefining IR Microscopy
- Faster analyses, faster results
- visible light to share the same beam path, providing excellent
- redefines infrared microscopy, taking
- simplifies the optical layout and provides optimum signal-to-
- it to new levels of performance, speed
- noise and extremely high spatial resolution – critical factors
- The revolutionary Spotlight™ 200 FT-IR
- Unlike optical microscope-based designs, the Spotlight 200
Applications
- Analyse de microplastiques
- Contrôle qualité pharmaceutique
- Caractérisation des matériaux et polymères
- Analyse de contaminants et de particules inconnues
- Études de revêtements, films et surfaces techniques
Fiche produit HTTSystems
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